利用F2-A频率器测量晶振温度波动特性
利用 特性 测量 频率 温度 波动
2023-09-11 14:15:19 时间
01 晶振温度特性
一、背景
今天到货的频率计数器FA-2, 经过测试其测量频率的功能正常。 在前几天观察到晶振受温度与影响的时候, 由于所使用的万用表测量频率精度不够, 所以只有温度变化剧烈的时候, 才能够看到频率的变化。 下面通过FA-2频率计观察晶体受到温度的影响特性。
二、观察结果
1、手动加热
这是一个基于MEGA8的单片机电路, 将其16MHz晶振信号引入FA-2输入端。 FA-2设置为输入1M欧姆高阻输入。 可以看到显示的数值为16MHz左右。 使用手触碰晶体, 可以看到读取的晶体振荡频率在变化。 使用酒精降温晶体, 同样会引起晶体频率变化。
2、电烙铁加热
这里使用电烙铁加热晶振, 观察这个过程频率的变化。经过加热之后,频率变高。停止加热之后,频率降低。
三、频率变化曲线
继续使用电烙铁加热晶体, 然后通过编程读取频率的变化。 采集加热前后的频率变化。 总共采集到25个数据。 这显示了频率受到温度引起的变化。 在温度降低过程中,频率也下降。
※ 总 结 ※
本文利用FA-2频率器测量单片机晶振受到温度的影响。 由于FA-2的分辨率很高, 可以反映晶振对温度的敏感性。 晶体的温度特性还是可以满足普通应用。
FA-2测量单片机晶体振荡频率
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